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三星正在改善1Gb MRAM壽命問題

已有 1102 次閱讀2020-3-25 14:45 |個(gè)人分類:非易失性MRAM| MRAM壽命, 非易失性MRAM, STT-MRAM

據(jù)報(bào)道三星已經(jīng)成功研發(fā)出有望替代嵌入式閃存存儲(chǔ)器(eFlash)的嵌入式磁阻隨機(jī)訪問內(nèi)存(eMRAM),容量為1Gb,測(cè)試芯片的優(yōu)良率已達(dá)90%。

隨著5G物聯(lián)網(wǎng)時(shí)代的來臨,存儲(chǔ)器領(lǐng)域發(fā)展快速,而在這一領(lǐng)域,韓系廠商擁有著比較明顯的優(yōu)勢(shì)。

MRAM芯片是一種以電阻為存儲(chǔ)方式結(jié)合非易失性及隨機(jī)訪問兩種特性,可以兼做內(nèi)存以及硬盤的新型存儲(chǔ)器介質(zhì)。寫入速度可達(dá)到NAND閃存的數(shù)千倍,此外其制作工藝要求低,產(chǎn)品良品率高,可以很好的控制成本。在壽命方面由于MRAM特殊的存儲(chǔ)方式,產(chǎn)品的壽命耐久性也遠(yuǎn)遠(yuǎn)超傳統(tǒng)RAM。



報(bào)道稱三星也正在改善1Gb MRAM壽命問題,除了支持長(zhǎng)達(dá)10年的存儲(chǔ)年限之外,在105℃的溫度也可完成1億次讀寫,在85℃下則可增加至100億次讀寫,在正常工作環(huán)境中,則有望達(dá)到1兆次讀寫。目前以MRAM為代表的新型存儲(chǔ)已經(jīng)發(fā)展到了關(guān)鍵階段,是否能成為取代NAND閃存的下一代存儲(chǔ)器介質(zhì)除了材料和工藝的不斷的完善之外,構(gòu)建完善器件的技術(shù)生態(tài)系統(tǒng)同樣是十分關(guān)鍵的。相信在市場(chǎng)需求的引導(dǎo)以及各大廠商的推動(dòng)下,存儲(chǔ)產(chǎn)品一定朝著性能更高以及容量更大以及成本更優(yōu)的方向發(fā)展。

致力于生產(chǎn)MRAM存儲(chǔ)器的EVERSPIN在磁存儲(chǔ)器設(shè)計(jì),制造和交付到相關(guān)應(yīng)用中的知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)在半導(dǎo)體行業(yè)中是獨(dú)一無二的。Everspin擁有超過600項(xiàng)有效專利和申請(qǐng)的知識(shí)產(chǎn)權(quán)產(chǎn)品組合,在平面內(nèi)和垂直磁隧道結(jié)(MTJ)STT-MRAM位單元的開發(fā)方面處于市場(chǎng)領(lǐng)先地位。 Everspin在數(shù)據(jù)中心在汽車和運(yùn)輸市場(chǎng)中部署了超過1.2億個(gè)MRAM和STT-MRAM的產(chǎn)品,為全球MRAM用戶奠定了最強(qiáng)大,增長(zhǎng)最快的基礎(chǔ)。

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