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標(biāo)題:
芯片ate測試之導(dǎo)通電阻測試過程與方法 -納米軟件
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作者:
namisoft
時間:
2023-9-28 15:11
標(biāo)題:
芯片ate測試之導(dǎo)通電阻測試過程與方法 -納米軟件
導(dǎo)通電阻即導(dǎo)線通電后的電阻值,導(dǎo)通電阻測試的目的是為了檢測導(dǎo)線或連線情況是否正常。其中芯片引腳導(dǎo)通性測試是一個重要步驟,用于驗證和檢測芯片引腳之間的連接是否正確,以確保芯片的正常工作。
芯片導(dǎo)通電阻.png
芯片測試
如何測試芯片引腳導(dǎo)通性?
芯片引腳導(dǎo)通性測試的目的是檢測芯片引腳之間的電氣連通是否良好,測試可以幫助工程師們確定芯片是否正常,以及在產(chǎn)品中使用期間是否會出現(xiàn)連接問題
首先,在進(jìn)行芯片引腳導(dǎo)通性測試之前,工程師們需要準(zhǔn)備好測試所需的設(shè)備和工具。有測試臺柜、測試儀器、測試座、測試夾具治具、測試程序等。在選擇測試設(shè)備和工具時,需要考慮測試的精度和穩(wěn)定性,以確保測試結(jié)果的可靠性。同時,還需要根據(jù)芯片的設(shè)計特點和測試要求來確定適合的測試方法和策略。
其次,芯片引腳導(dǎo)通性測試的過程需要根據(jù)具體的芯片設(shè)計和連接結(jié)構(gòu)來確定,這些測試步驟包括引腳電壓測試、引腳電流測試、引腳開關(guān)測試等。
在進(jìn)行引腳電壓測試時,測試儀器會通過接觸引腳并施加一定的電壓,然后檢測是否有電流通過引腳。如果有電流通過,則說明引腳連通正常;如果沒有電流通過,則說明引腳存在連接問題。引腳電壓測試可以幫助工程師們了解芯片內(nèi)部各個模塊的工作狀態(tài)。引腳電阻測試是用來檢測芯片引腳之間的電阻情況。
最后,測試儀器會通過接觸引腳并施加一定的電流,然后測量引腳電壓,通過測量電壓降和電流值,根據(jù)歐姆定律,可以計算出引腳之間的電阻大小。引腳電阻測試可以幫助工程師們確定引腳連接是否存在異常。
ATECLOUD-IC芯片測試系統(tǒng).png
芯片測試系統(tǒng)
如何使用納米軟件芯片測試系統(tǒng)進(jìn)行導(dǎo)通電阻測試?
使用ATECLOUD進(jìn)行芯片導(dǎo)通電阻測試的步驟如下:
連接測試設(shè)備,登錄ATECLOUD智能云測試平臺。
創(chuàng)建測試項目,項目名稱為導(dǎo)通電阻測量。
在右側(cè)添加本次測試需要用到的測試儀器數(shù)字萬用表,電子負(fù)載,可編程直流電源,并對其型號進(jìn)行配置。ATECLOUD平臺支持市場主流品牌商儀器,支持20+儀器種類,支持2000+儀器型號,用戶可直接在儀器庫進(jìn)行儀器名稱的搜索即可添加。
搭建測試工步,ATECLOUD云測試平臺采用圖標(biāo)拖拽測試流程代替編程語言,讓用戶可以快速上手,快速進(jìn)行測試工步的搭建工作。
啟動測試,輸入產(chǎn)品編號后,啟動測試,即可看到隨時間變化數(shù)字萬用表與電子負(fù)載自動測量電壓值與電流值,系統(tǒng)自動根據(jù)歐姆定律計算出電阻值,通過數(shù)據(jù)洞察功能,數(shù)值模式可自由切換圖表模式,即可實時顯示電阻值的曲線圖。
導(dǎo)出測試報告,測試報告靈活定義,可實現(xiàn)報告自動取數(shù),報告自動生成。在測試報告需要重新設(shè)計時,可快速自定義修改,脫離對開發(fā)的依賴,提高效率,降低成本!
關(guān)于納米軟件
納米軟件
是一家智能測試及測試大數(shù)據(jù)分析的高科技公司,幫助客戶解決生產(chǎn)及研發(fā)中智能測試的需求,
專注于儀器自動化測試軟件開發(fā)和智能測試大數(shù)據(jù)分析
,通過測試云技術(shù),邊緣計算和云計算,實現(xiàn)生產(chǎn)制造企業(yè)測試數(shù)據(jù)采集及智能分析、故障預(yù)測與診斷、維護(hù)決策與優(yōu)化等大數(shù)據(jù)應(yīng)用服務(wù)整體解決方案,幫助企業(yè)實現(xiàn)智能化改造。
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