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標(biāo)題: CRC誤判？RAM局部出錯(cuò)？ [打印本頁(yè)]

作者: kbgyzp 時(shí)間: 2010-3-4 15:26
標(biāo)題: CRC誤判？RAM局部出錯(cuò)？
CRC16校驗(yàn)的誤判的概率有多大? 單片機(jī)內(nèi)存出錯(cuò)的概率有多大？

我一組數(shù)據(jù)，連同CRC值一起存到了鐵電里，當(dāng)CPU上電時(shí)，我要把存在鐵電的數(shù)據(jù)導(dǎo)入到RAM中，在導(dǎo)入到RAM的過(guò)程中，如果判定數(shù)據(jù)的CRC校驗(yàn)正確，會(huì)直接導(dǎo)入到RAM中，如果判定數(shù)據(jù)的CRC校驗(yàn)不正確，會(huì)把RAM的數(shù)據(jù)從新初始化新值，并從新把初始化的數(shù)據(jù)寫到鐵電里。
可偶爾發(fā)生了一次上電后RAM的值既不是初始化的新值，也不是保存的正常值，而是亂七八糟的數(shù)據(jù)。
我現(xiàn)在不知道是怎么造成的。
1.從鐵電中讀數(shù)據(jù)時(shí)，沒有讀正確，但通過(guò)了CRC校驗(yàn)。
2.RAM數(shù)據(jù)局部被干擾導(dǎo)致變量數(shù)據(jù)損壞了，但沒影響CPU的正常運(yùn)行。
出錯(cuò)原因只有這兩種可能，但概率很小，無(wú)法模擬。希望各位高手發(fā)表高見。

作者: Netjob 時(shí)間: 2010-3-8 14:21
當(dāng)時(shí)就懷疑過(guò)這個(gè)方案了，那周老板說(shuō) 那個(gè)引腳在上電，掉電是是低電平。。。之類的�？梢云鸬綄懕Ｗo(hù)。。。。。

看來(lái)還是加些保護(hù)

作者: hotpower 時(shí)間: 2010-5-17 00:01
CRC碰撞

作者: 李冬發(fā) 時(shí)間: 2010-7-15 08:37
CRC碰撞機(jī)率是1/65536

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