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吉時(shí)利微電子半導(dǎo)體行業(yè)方案

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發(fā)布時(shí)間: 2019-7-10 13:50

正文摘要:

電阻測(cè)試是表征材料特性的最常用測(cè)試手段,在某些應(yīng)用中,用戶需要進(jìn)行極端微小電阻(Ultra-lowresistance)測(cè)試,例如納米材料,超導(dǎo)材料,繼電器開關(guān),低電阻材料、連接器的測(cè)試,或者精密的熱量測(cè)定和研究領(lǐng)域。 ...

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