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電子工程網»論壇 › 技術區(qū) › 測試測量 › 半導體自動化測試系統(tǒng)如何解決芯片靜態(tài)功耗測試痛點？

半導體自動化測試系統(tǒng)如何解決芯片靜態(tài)功耗測試痛點？

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namisoft 發(fā)布時間: 2023-10-8 15:59 正文摘要: 　　在芯片的眾多測試項目中芯片的功耗測試可謂重中之重，因為芯片的功耗不僅關系著芯片的整體工作性能也對芯片的效率有著非常重大的影響。芯片的功耗測試包括動態(tài)功耗和靜態(tài)功耗。 　　芯片靜態(tài)功耗是什么? 　　 ...

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