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LCR測(cè)試儀中LP(Parallel)與LS(Series)模式的區(qū)別

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發(fā)布時(shí)間: 2025-5-6 16:36

正文摘要:

一、核心差異:測(cè)量模型不同1. LP模式(并聯(lián)模式)將元件視為理想元件與寄生電阻并聯(lián)的模型(如電感與寄生電容并聯(lián))。適用于高頻場(chǎng)景(通常>1MHz),此時(shí)元件寄生電容(如線圈分布電容)形成并聯(lián)支路,影響總阻抗。 ...

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