一、引言：納米材料導(dǎo)電性測(cè)量的挑戰(zhàn)與需求納米材料的導(dǎo)電性受尺寸效應(yīng)、表面態(tài)、量子隧穿等因素影響，傳統(tǒng)測(cè)量方法難以滿足其高精度需求。例如，納米薄膜的厚度僅為幾納米，電流可能低至飛安（fA）級(jí)別，且表面電阻 ...
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