什么是晶圓探針測試? 晶圓探針測試也叫中間測試,是半導(dǎo)體(集成電路)生產(chǎn)過程中的重要步驟,通過探針臺(tái)檢測晶圓上芯片的性能來判斷芯片是否符合設(shè)計(jì)要求,從而減少在封裝過程中不必要的成本,同時(shí)也指導(dǎo)著 ...