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使用APC連接器實現(xiàn)OTDR/iOLM長期性能最大化

發(fā)布時間:2012-10-30 19:59    發(fā)布者:1640190015
關鍵詞: APC , 連接器 , OTDR , iOLM
  By: Mario Simard
  優(yōu)化 OTDR 和 iOLM 軟件應用程序的性能,應從光路的低反射強度開始考慮。因為較高的反射強度可能會拉長盲區(qū)。在測試 FTTx 網(wǎng)絡時,反射強度對性能的影響更為顯著,因為分光器會造成較大損耗。與 UPC 連接器相反,APC 連接器通常維持較低的反射強度,即使在臟污或磨損的情況下依然如此,從而確保最優(yōu)的測試性能。
  OTDR 設計用于處理網(wǎng)絡上的高反射強度問題;但是,如果 OTDR 連接器上始終存在高反射強度,那么所有測試的性能都會受到影響,即使僅在 APC 的鏈路上也不例外。
  反射強度對衰減盲區(qū)的影響
  衰減盲區(qū)是一種規(guī)格指標,表示在反射點之后,OTDR 信號的光纖背向散射強度返回至低于 0.5 dB 的差值所需的距離。接收器電子器件和光電探測器都會導致在反射后出現(xiàn)恢復區(qū)。
  在各廠商的 OTDR 規(guī)格指標中,衰減盲區(qū)的性能通常會被優(yōu)越的反射條件而掩蓋(–45 dB、–55 dB 甚至 –65 dB,具體取決于 OTDR 制造商)。眾所周知,反射強度水平會直接影響 OTDR 盲區(qū),隨著反射強度的升高,盲區(qū)會變得更長。這是因為連接器反射強度可能比 OTDR 測得的背向散射信號強度高出很多數(shù)量級。
  好的 UPC 連接器反射強度為 –55 dB,產生的信號峰值可能比 5 ns 脈沖的光纖背向散射(在 1550 nm 下約為 –75 dB)高 100 倍。不好的 UPC 連接器(反射強度通常為 –45 至 –25 dB)產生的信號峰值可能比光纖背向散射高 1000 至 100 000 倍。由于反射強度對背向散射的比值范圍如此之大,因此顯而易見的是,衰減盲區(qū)高度依賴于連接器反射強度。
  圖 1. 反射強度為 –45 dB 和 –25 dB 的典型 OTDR 曲線:反射強度為 –25 dB 時衰減盲區(qū)出現(xiàn)顯著增長。
  反射強度對 PON 盲區(qū)的影響
  PON 盲區(qū)的定義與衰減盲區(qū)非常相似,不同的是 PON 適用于具有顯著損耗值的事件(而衰減盲區(qū)通常適用于損耗可忽略的事件)。與衰減盲區(qū)類似,PON 盲區(qū)定義為 OTDR 信號的背向散射強度達到低于 0.5 dB 所需的距離。
  我們以 1:32 分光器為例。此類分光器的正常損耗大約為 16 dB。假設使用 50 ns 脈沖來測試分光器,分光器之前的背向散射強度為 –65 dB,分光器之后為 –97 dB(因為 OTDR 測試信號在分光器中來回傳輸,所以在經(jīng)過分光器之后,背向散射強度比之前低 32 dB)。–45 dB 的反射強度比經(jīng)過分光器之后的背向散射強度高出 2 000 000 倍,該數(shù)值非常大。OTDR 檢測器要在 –45 dB 的反射強度之后“恢復”至背向散射強度,需要很長時間。顯然,在反射強度高于 –45 dB 的情況下結果更糟。

  圖 2. 頂部:連接器和分光器上反射強度為 –45 dB 時的典型 OTDR 曲線。在經(jīng)過分光器之后盲區(qū)出現(xiàn)顯著增加。底部:不同反射強度(–65 dB、–45 dB、–25 dB)的 PON 盲區(qū)。
  連接器反射強度:APC 與 UPC 對比
  如我們所見,當損耗較大的分光器之前的反射強度高時,PON 盲區(qū)會顯著增大。清潔的全新 UPC 連接器的反射強度水平較佳(通常低于 –55 dB)。但是,只要這些連接器磨損或者只是清潔不當,便可能造成反射強度顯著升高。例如,臟污的連接器的反射強度可能比清潔的時候高出 1000 倍。
  相反,APC 連接器具有內置斜面插針,本質上具備非常穩(wěn)定的反射強度。即使磨損或臟污,仍然能夠保持較佳的反射強度水平(通常優(yōu)于 –50 dB)。
  圖 3. UPC 和 APC 連接器的典型反射強度范圍。紅色虛線:磨損或臟污的連接器的范圍。
  反射強度對測量的影響
  當 OTDR 和分光器之間的鏈路上的反射強度較高時,PON 盲區(qū)會更長。更長的 PON 盲區(qū)會限制對靠近分光器的事件元素的區(qū)分能力。在下面的范例中,三個事件(標記為 1、2 和 3)在反射強度較高時會被合并在一起。
  
  圖 4. 帶有和不帶不良連接器的 FTTx 網(wǎng)絡的典型 OTDR 曲線。不良連接器會導致反射強度較高,延長 PON 恢復區(qū)并降低 OTDR/iOLM 正確檢測所有事件的能力。
  降低擁有成本
  測試儀器上出現(xiàn)磨損或臟污的連接器是絕不可取的。UPC 和 APC 連接器在磨損或臟污的情況下都會產生額外損耗。這種額外損耗會迫使 OTDR 用戶選擇更大的脈沖來測試網(wǎng)絡。如果額外損耗為 1 或 2 dB,則仍然可能運行 OTDR 并獲得較佳的結果。但是,反射強度就另當別論了。
  測試 FTTx 網(wǎng)絡時,避免任何不必要的反射十分重要。帶有損壞的 UPC 連接器的 OTDR 對于測試較短的 FTTx 網(wǎng)絡幾乎無效。另一方面,輕微受損的 APC 連接器(例如,造成的額外損耗為 1 或 2 dB 的損壞)仍然能夠工作,因為反射強度仍然會保持在 –50 dB 范圍內。
  總而言之,帶有 APC 連接器的 OTDR 能實現(xiàn)連續(xù)測量和穩(wěn)定測試,維修(更換連接器)頻率更低。此外,使用 UPC 連接器的網(wǎng)絡可以輕松地使用混合測試跳線進行測試(OTDR/iOLM 端使用 APC,網(wǎng)絡端使用 UPC)。因此,EXFO 強烈推薦對 OTDR 使用 APC 連接器,使其成為 iOLM 應用的必備設備。

(EXFO)
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