熱門關(guān)鍵詞：微芯 Altera Fluke 電阻霍爾效應(yīng)

串行數(shù)據(jù)一致性測(cè)試和驗(yàn)證測(cè)量基礎(chǔ)知識(shí)

發(fā)布時(shí)間：2014-3-25 16:59 發(fā)布者：eechina

關(guān)鍵詞：串行 , 一致性

在本入門手冊(cè)中，我們將考察串行標(biāo)準(zhǔn)的一致性測(cè)試要求，重點(diǎn)介紹第二代標(biāo)準(zhǔn)問(wèn)題。在介紹三種關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn)的特點(diǎn)后，我們將考察您面臨的問(wèn)題，包括基本測(cè)試，以及在一致性測(cè)試階段和調(diào)試階段需要考慮哪些問(wèn)題。我們將處理五個(gè)主要方面：連接被測(cè)器件(DUT)，生成準(zhǔn)確的測(cè)試碼型，測(cè)試接收機(jī)，采集數(shù)據(jù)，分析數(shù)據(jù)。

下載：

55C-16736-3-串行數(shù)據(jù)一致性測(cè)試和驗(yàn)證測(cè)量基礎(chǔ)知識(shí).pdf (2.82 MB)

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