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NI（美國(guó)國(guó)家儀器，National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI）推出PXIe-4163高密度源測(cè)量單元（SMU），該測(cè)量單元提供了比以往NI PXI SMU高達(dá)6倍的直流通道密度，適用于測(cè)試RF、MEMS以及混合信號(hào)和其他模擬半導(dǎo)體元件。 NI全球銷售和市場(chǎng)執(zhí)行副總裁Eric Starkloff表示：“5G、物聯(lián)網(wǎng)和自動(dòng)駕駛汽車等革命性的技術(shù)發(fā)展給半導(dǎo)體企業(yè)帶來(lái)持續(xù)的壓力。無(wú)論是實(shí)驗(yàn)室環(huán)境還是生產(chǎn)車間，都需要采用更高效的半導(dǎo)體測(cè)試方法。半導(dǎo)體測(cè)試是NI的戰(zhàn)略重點(diǎn)。我們正在擴(kuò)展我們的軟件平臺(tái)和PXI功能，以幫助芯片制造商應(yīng)對(duì)他們面臨的最大挑戰(zhàn)，這一點(diǎn)通過(guò)NI最新的PXI SMU可以完全體現(xiàn)出來(lái)�！� 由于其高吞吐量、高性價(jià)比和占地面積小，NI的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)（STS）正在快速應(yīng)用到芯片生產(chǎn)中。全新的PXIe-4163 SMU則進(jìn)一步增強(qiáng)了這些功能，它能提供更高的直流通道密度，使多站點(diǎn)應(yīng)用具有更高的并行性，以及在生產(chǎn)中提供實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的測(cè)量質(zhì)量。利用這一組合，工程師在實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)車間中可以使用相同的儀器進(jìn)行驗(yàn)證，從而減少了測(cè)量數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)的挑戰(zhàn)，進(jìn)而縮短上市時(shí)間。 工程師可以在STS配置或單獨(dú)的PXI系統(tǒng)中使用全新的PXIe-4163 SMU。 主要產(chǎn)品功能包括： • 在單個(gè)PXI Express插槽中提供多達(dá)24路通道 • 每通道電壓范圍+/- 24 V • 每通道高達(dá)100 mA源極/漏極電流 • 100 pA電流靈敏度 • 高達(dá)100 kS/s采樣率和更新速率 • 采用SourceAdapt技術(shù)，可最小化過(guò)沖和振動(dòng) • 交互式配置和調(diào)試軟件 • 在單個(gè)PXI機(jī)箱中提供高達(dá)408個(gè)高精度SMU通道（4U機(jī)架空間） • 受到STS全面支持，包括系統(tǒng)級(jí)布線、校準(zhǔn)和引腳映射支持 STS于2014年推出，為半導(dǎo)體生產(chǎn)提供了顛覆性的測(cè)試方法。它基于NI PXI平臺(tái)，可以幫助工程師構(gòu)建更智能的測(cè)試系統(tǒng)。PXI平臺(tái)包括1 GHz帶寬矢量信號(hào)收發(fā)儀 、fA級(jí)SMU 、TestStand業(yè)界領(lǐng)先的商用現(xiàn)成測(cè)試管理軟件以及頻率從DC涵蓋到mmWave的600多種PXI產(chǎn)品。 如需了解更多關(guān)于STS的功能，請(qǐng)?jiān)L問(wèn)www.ni.com/sts/。 |
