簡(jiǎn)單判斷iC好壞1

zhangjunweiw · 發(fā)表于 2011-2-14 15:27:01

一、不在路檢測(cè)
　　這種方法是在ｉｃ未焊入電路時(shí)進(jìn)行的，一般情況下可用萬(wàn)用表測(cè)量各引腳對(duì)應(yīng)于接地引腳之間的正、反向電阻值，并和完好的ｉｃ進(jìn)行較。

wongfu72 · 發(fā)表于 2011-2-15 21:50:05

麻煩,如果只有一塊IC呢?

ljc424 · 發(fā)表于 2011-2-16 13:27:44

刷下分

ywwork2011 · 發(fā)表于 2011-2-26 19:25:02

不夠?qū)嵱茫。。?/td>

514433999 · 發(fā)表于 2014-5-11 21:30:31

無(wú)聊的玩意

Benjoy · 發(fā)表于 2014-5-12 01:24:16

不太懂，向大家學(xué)習(xí)！

ming_10 · 發(fā)表于 2014-5-30 13:42:20

zyr_1215 · 發(fā)表于 2014-5-30 14:56:46

太簡(jiǎn)單了。

joywyc · 發(fā)表于 2014-6-4 20:19:05

這是一種按黑匣子法和比較法的測(cè)試，只能判斷IC大的損壞或缺陷，不能判別諸如靜電損傷一類隱形故障。

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