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官宣:銀聯(lián)寶首推低壓mos管!

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發(fā)表于 2018-10-23 10:30:45 | 只看該作者 回帖獎(jiǎng)勵(lì) |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
關(guān)鍵詞: 低壓mos
銀聯(lián)寶首次推出低壓mos管。下面小編呢就重點(diǎn)給大家介紹一下什么是低壓mos管!
一、什么是低壓mos管
mos管,即在集成電路中絕緣性場(chǎng)效應(yīng)管。是金屬(metal)—氧化物(oxid)—半導(dǎo)體(semiconductor)場(chǎng)效應(yīng)晶體管。或者稱是金屬—絕緣體(insulator)—半導(dǎo)體。MOS管的source和drain是可以對(duì)調(diào)的,都是在P型backgate中形成的N型區(qū)。在多數(shù)情況下,這個(gè)兩個(gè)區(qū)是一樣的,即使兩端對(duì)調(diào)也不會(huì)影響器件的性能。這樣的器件被認(rèn)為是對(duì)稱的。

二、低壓mos的主要參數(shù):
1.開啟電壓VT
·開啟電壓(又稱閾值電壓):使得源極S和漏極D之間開始形成導(dǎo)電溝道所需的柵極電壓;
·標(biāo)準(zhǔn)的N溝道MOS管,VT約為3~6V;
·通過工藝上的改進(jìn),可以使MOS管的VT值降到2~3V。
2. 直流輸入電阻RGS
mos管·即在柵源極之間加的電壓與柵極電流之比、這一特性有時(shí)以流過柵極的柵流表示MOS管的RGS可以很容易地超過1010Ω。
漏源擊穿電壓BVDS
·在VGS=0(增強(qiáng)型)的條件下 ,在增加漏源電壓過程中使ID開始劇增時(shí)的VDS稱為漏源擊穿電壓BVDS
·ID劇增的原因有下列兩個(gè)方面:
(1)漏極附近耗盡層的雪崩擊穿
(2)漏源極間的穿通擊穿
·有些MOS管中,其溝道長(zhǎng)度較短,不斷增加VDS會(huì)使漏區(qū)的耗盡層一直擴(kuò)展到源區(qū),使溝道長(zhǎng)度為零,即產(chǎn)生漏源間的穿通,穿通后,源區(qū)中的多數(shù)載流子,直接受耗盡層電場(chǎng)的吸引,到達(dá)漏區(qū),產(chǎn)生大的ID
4. 柵源擊穿電壓BVGS
·在增加?xùn)旁措妷哼^程中,使柵極電流IG由零開始劇增時(shí)的VGS,稱為柵源擊穿電壓BVGS。
5. 低頻跨導(dǎo)gm
·在VDS為某一固定數(shù)值的條件下 ,漏極電流的微變量和引起這個(gè)變化的柵源電壓微變量之比稱為跨導(dǎo)·gm反映了柵源電壓對(duì)漏極電流的控制能力·是表征MOS管放大能力的一個(gè)重要參數(shù)·一般在十分之幾至幾mA/V的范圍內(nèi)
6. 導(dǎo)通電阻RON
·導(dǎo)通電阻RON說明了VDS對(duì)ID的影響 ,是漏極特性某一點(diǎn)切線的斜率的倒數(shù)
·在飽和區(qū),ID幾乎不隨VDS改變,RON的數(shù)值很大,一般在幾十千歐到幾百千歐之間
7. 極間電容
·三個(gè)電極之間都存在著極間電容:柵源電容CGS 、柵漏電容CGD和漏源電容CDS。
以上是對(duì)低壓mos管的簡(jiǎn)單介紹,有需要的詳細(xì)可咨詢銀聯(lián)寶,我們可提供免費(fèi)送樣!elanpo銀聯(lián)寶團(tuán)隊(duì)將為您提供合理的建議。

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