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MVG發(fā)布MiniLAB系統(tǒng)新功能 為在LTE設(shè)備上測量RSE提供了 全新方案

發(fā)布時間:2019-9-2 10:04    發(fā)布者:eechina
關(guān)鍵詞: MiniLAB , RSE , 無源天線 , 天線測量 , OTA測試
法國Microwave Vision Group (以下簡稱MVG) 近日宣布在其備受業(yè)界歡迎的MiniLAB系統(tǒng)中集成了RSE和無源天線測量功能。MiniLAB系統(tǒng)現(xiàn)不僅可以進行高準(zhǔn)確度的OTA測試,還能提供無源測量,并為在LTE設(shè)備上測量RSE提供了一個全新方案。



在無源天線測量上,MiniLAB的電子掃描多探頭陣列封裝在高隔離暗室中,可加快測量速度,并為直徑達30 cm *的被測設(shè)備繪制天線輻射圖,使其成為優(yōu)化各種設(shè)備天線性能的理想解決方案。

輻射雜散發(fā)射(RSE)是指被測設(shè)備(DUT)發(fā)出的所有非基本發(fā)射。高水平的輻射發(fā)射會對某些特定無線產(chǎn)品帶來功能上的挑戰(zhàn),干擾其他無線設(shè)備或無線電系統(tǒng),或者改變設(shè)備本身的運行效率。

出于這個原因,諸如國際電信聯(lián)盟(ITU)、歐洲無線電和電信終端設(shè)備(R&TTE)指令以及聯(lián)邦通信委員會(FCC)的標(biāo)準(zhǔn)化機構(gòu)對在無線設(shè)備上測量RSE進行了嚴(yán)格的測試要求規(guī)定。這些測試要求旨在消除被測設(shè)備附近有其他無線設(shè)備時的干擾風(fēng)險。

過去一直以來都是使用垂直掃描機械運動來測量RSE,以便在方位角旋轉(zhuǎn)時監(jiān)控設(shè)備。但這與許多傳統(tǒng)測試方法一樣,在設(shè)計和生產(chǎn)過程中非常耗時,而對廠商來說上市時間又是至關(guān)重要的。

相比較,MiniLAB采用多探頭技術(shù),為在LTE和其他有源設(shè)備上測量提供了一個全新的RSE測試方案。在提供準(zhǔn)確、穩(wěn)定的數(shù)據(jù)同時,可以更快速、更詳細(xì)、更經(jīng)濟地解決企業(yè)的RSE測試需求。

使用MiniLAB可以大幅縮短測量時間和提交精確測量數(shù)據(jù),其集成的多探頭陣列采用電子掃描來測量無線設(shè)備,使用戶能夠更輕松、更快速地在高達6 GHz的LTE頻段測量RSE。測量完成后,20秒內(nèi)即能獲得RSE測量結(jié)果。

MiniLAB配備全電波暗室,屏蔽效能 > 100 dB,并提供高動態(tài)范圍,可測量傳輸無線信號和周圍發(fā)射的峰值電平而不會造成任何失真。
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