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一、水平方向的時間測量 水平方向的測量有波形頻率、周期、上升下降時間等參數(shù)，想要更準確還原一個波形的時間參數(shù)，首先要考慮奈奎斯特采樣定理。因此在每次測量的過程中，我們應該特別關注隨著時基檔位增大而下降的實際采樣率。如果需要對高頻信號周期準確測量，就需要采樣率大于被測信號頻率2倍以上，這個倍比關系越大，理論上采樣點越密，顯示在示波器屏幕上的周期信號便越穩(wěn)定。 
其次要考慮波形漏失情況，當信號中有偶發(fā)異常信號出現(xiàn)時，我們更希望它出現(xiàn)在示波器采集過程中，然而市面上大部分數(shù)字示波器是串行工作方式，其進行AD轉換數(shù)據(jù)處理時無法對信號采集，此時稱為“示波器盲區(qū)”，這種情況下我們盡量用較小的存儲深度，來縮短“盲區(qū)時間”，保證異常偶發(fā)信號更大概率的被捕獲。
二、垂直方向的幅度測量 市面上的數(shù)字示波器大多采用并行Flash ADC，這種模數(shù)轉換芯片的特點在于并行分析采集到的電壓值，提高模數(shù)轉換的速度，而且通過增加ADC位數(shù)，可以對采集到的電壓進行更精準的比較識別。雖然我們之前在文章中寫過示波器不適合高精度靜態(tài)量測量，但是在高頻信號測試中，仍然是“拼”ADC位數(shù)的時候—ADC位數(shù)越多，ADC垂直分辨率越高。
三、統(tǒng)計學上的多次測量 任何物理測量我們都知道測量值都是一個近似值。測量中存在偶然誤差和系統(tǒng)誤差，為了得到有價值可參考的測量值，通常的做法是進行多次測量統(tǒng)計取值。示波器測量中比如眼圖測試，許多標準要求的數(shù)據(jù)積累量在1Mbit，誤碼率測試中如果希望被測系統(tǒng)的誤碼率小于10^（-12），那么至少測量3*10^12 bit才能保證95%以上的置信度。所以對于測量本身來講，如果能在單位時間內獲取到更多有意義的測試結果，意味著結果的置信度越高，這就是“示波器的測量速度”。 如果我們想測量一個周期信號的上升時間，當我們通過一次捕獲的幾個周期，將每個周期的上升時間測量后取平均值，那么這個測量結果就比測量一個周期的上升時間更可信，而且更大限度的利用了已采集到的數(shù)據(jù)，因此，相對于得到單周期上升時間測量值，這種多周期測量的“速度更快”。 比如泰克示波器MDO34、MSO46，甚至是MSO5系，6系，在自動測量中都添加了統(tǒng)計圖功能，這樣充分利用了已采集到的數(shù)據(jù)，實現(xiàn)更可靠的測量結果。
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