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泰克 TSP-2000-HALL 半導(dǎo)體器件測(cè)試方案

發(fā)布時(shí)間:2020-4-30 10:23    發(fā)布者:agitek2008

測(cè)試半導(dǎo)體材料的霍爾效應(yīng)是表征和分析半導(dǎo)體材料的重要手段。我們可以根據(jù)霍爾系數(shù)的符號(hào)來(lái)判斷半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電類型,是N型還是P型;霍爾效應(yīng)從本質(zhì)上講是運(yùn)動(dòng)的帶電粒子在磁場(chǎng)中受洛侖茲力作用而引起的偏轉(zhuǎn)。當(dāng)帶電粒子(電子或空穴)被約束在固體材料中,這種偏轉(zhuǎn)就導(dǎo)致在垂直于電流和磁場(chǎng)的方向上產(chǎn)生正負(fù)電荷的聚積,從而形成附加的橫向電場(chǎng)。


根據(jù)霍爾系數(shù)及其與溫度的關(guān)系可以計(jì)算載流子的濃度,以及載流子濃度同溫度的關(guān)系,由此可以確定材料的禁帶寬度和雜質(zhì)電離能;通過霍爾系數(shù)和電阻率的聯(lián)合測(cè)量能夠確定載流子的遷移率,用微分霍爾效應(yīng)法可測(cè)縱向載流子濃度分布;測(cè)量低溫霍爾效應(yīng)可以確定雜質(zhì)補(bǔ)償度。

與其他測(cè)試不同的是霍爾參數(shù)測(cè)試中測(cè)試點(diǎn)多、連接繁瑣,計(jì)算量大,需外加溫度和磁場(chǎng)環(huán)境等特點(diǎn),在此前提下,手動(dòng)測(cè)試是不可能完成的。

霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)幾千到至幾萬(wàn)點(diǎn)的多參數(shù)自動(dòng)切換測(cè)量,系統(tǒng)由Keithley2400 系列源表,2700 矩陣開關(guān)和霍爾效應(yīng)測(cè)試軟件Cyclestar等組成?稍诓煌拇艌(chǎng)、溫度和電流下根據(jù)測(cè)試結(jié)果計(jì)算出電阻率、霍爾系數(shù)、載流子濃度和霍爾遷移率,并繪制曲線圖。

方案特點(diǎn):

(1)標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)可進(jìn)行在不同磁場(chǎng)和不同電流條件下的霍爾效應(yīng)和電阻的測(cè)量

(2)測(cè)試和計(jì)算過程由軟件自動(dòng)執(zhí)行,能夠顯示數(shù)據(jù)和曲線,節(jié)省了大量的時(shí)間

(3)選擇變溫選件,可以進(jìn)行不同溫度條件下的霍爾效應(yīng)和電阻的測(cè)量

(4)電阻測(cè)量范圍:0.1mW—50MW

測(cè)試材料:

(1)半導(dǎo)體材料:SiGe,SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs,HgCdTe 和鐵氧體材料等

(2)高阻抗材料:半絕緣的GaAs, GaN, CdTe 等

(3)低阻抗材料:金屬、透明氧化物、弱磁性半導(dǎo)體材料、TMR 材料等

系統(tǒng)原理:

霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)是根據(jù)范德堡法測(cè)量霍爾器件相關(guān)參數(shù),主要是對(duì)霍爾器件的I-V 測(cè)量,再根據(jù)其他相關(guān)參數(shù)來(lái)計(jì)算出對(duì)應(yīng)的值。

電阻率:范德堡法測(cè)量電阻率需要圍繞樣品進(jìn)行8 次測(cè)量。 電極1、2 加電流電極 4、3 測(cè)電壓,和電極2、3 加電流電極 1、4 測(cè)電壓,得到的電阻率稱之為ρA;接下來(lái)電極 3、4 加電流電極 2、1 測(cè)電壓,和電極 4、1 加電流電極 3、2 測(cè)電壓,得到的電阻率稱之為ρB。如果樣品均勻, ρA 和 ρB 比較接近,求它們的平均值即能得到樣品的電阻率 ρa(bǔ)v =( ρA+ ρB ) / 2。


霍爾系數(shù):范德堡法測(cè)量霍爾系數(shù)同樣需要圍繞樣品進(jìn)行 8 次測(cè)量。電極 3 和電極 1 之間加電流,然后電極 4 和電極 2 之間測(cè)量電壓,得到的霍爾系數(shù)稱之為 RHC;接下來(lái)電極 4 和電極 2 加電流,電極 1 和電極 3 之間測(cè)量電壓,得到的霍爾系數(shù)稱之為 RHD。


功能介紹:


(1)可進(jìn)行霍爾效應(yīng)、I-V特性、R-T 特性和 R-M 特性的測(cè)量

(2)可得出參數(shù): 方塊電阻、 電阻率、 霍爾系數(shù)、 霍爾遷移率、載流子濃度和導(dǎo)電類型;

(3)R-T 特性—固定磁場(chǎng),電阻隨溫度而變化的特性曲線

(4)R-M 特性—固定溫度,電阻隨磁場(chǎng)而變化的特性曲線

(5)曲線繪制功能:I-V特性—在不同磁場(chǎng)和不同溫度條件下的 I-V 特性曲線

(6)R-T 特性—固定磁場(chǎng),電阻隨溫度而變化的特性曲線

(7)R-M 特性—固定溫度,電阻隨磁場(chǎng)而變化的特性曲線

安泰測(cè)試作為泰克代理商,和泰克廠家一起為客戶提供更多的產(chǎn)品解決方案,讓客戶選型、培訓(xùn)、售后無(wú)憂。了解更多測(cè)試方案請(qǐng)咨詢西安安泰測(cè)試。


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