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LabVIEW工業(yè)測量和控制應(yīng)用資料集

發(fā)布時間:2011-8-1 09:32    發(fā)布者:eechina
關(guān)鍵詞: LabVIEW , NI , 測試測量 , 美國國家儀器
資源包包括LabVIEW在工業(yè)測控應(yīng)用中的新特性及主要資源。NI LabVIEW結(jié)合基于配置的工具和強大的編程功能,適于開發(fā)配有專業(yè)用戶界面的測量、分析和控制應(yīng)用程序,幫助用戶輕松觸及FPGA技術(shù),用戶因而能夠自行定義控制電路,同時削減了傳統(tǒng)自定義硬件中的復(fù)雜性和成本。

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jis715 發(fā)表于 2018-1-9 10:57:19
謝謝俄ile
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