LabVIEW儀器控制資料集

發(fā)布時(shí)間：2011-8-1 09:34 發(fā)布者：eechina

關(guān)鍵詞： LabVIEW , NI , 測(cè)試測(cè)量 , 美國國家儀器

資源包包括LabVIEW在儀器控制應(yīng)用中的新特性及主要資源。NI LabVIEW便于用戶控制并采集源自任意總線的各類儀器的數(shù)據(jù)。只需幾分鐘，您便能對(duì)多臺(tái)設(shè)備進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)量、在采集數(shù)據(jù)時(shí)予以分析、創(chuàng)建自定義報(bào)告。借助LabVIEW，您能將精力用于分析結(jié)果，而非獲得結(jié)果的過程。

下載：

LabVIEW_Application_Instruments_Control.zip (1.16 MB)

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