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羅德與施瓦茨升級R&S PWC200,以提高5G FR1基站OTA測試精度

發(fā)布時間:2021-4-26 10:44    發(fā)布者:eechina
由于采用了新的校準方法,R&S PWC200平面波轉(zhuǎn)換器(PWC)通過軟件更新提高了測量精度并改善了可用性。通過這些更新,羅德與施瓦茨為其用于研發(fā)、質(zhì)量保證、生產(chǎn)和一致性測試環(huán)節(jié)中的創(chuàng)新5G基站大規(guī)模MIMO測試方案擴展了更多用例。該軟件將預(yù)裝在新的設(shè)備中,同時原有的R&S PWC200設(shè)備也可以通過升級來更新。



隨著被稱為Type 1-O型的新一代基站變得愈加普遍,使用FR1頻段的5G基站的集成水平正在提高。Type 1-O型基站在FR1頻率范圍內(nèi)運行,并具有集成了收發(fā)器的天線陣列,無法訪問內(nèi)部射頻端口。這要求所有一致性和生產(chǎn)測試必須通過空口(OTA)方式進行,這就對OTA測試技術(shù)提出了新的挑戰(zhàn)。

為了進行精確的OTA測量,天線發(fā)送到被測設(shè)備(DUT)必須是平面波信號。被測設(shè)備周圍的平面波所在區(qū)域被稱為靜區(qū)(QZ)。這可以通過天線與被測設(shè)備之間設(shè)置較大距離來實現(xiàn),因而需要大型且昂貴的屏蔽室。羅德與施瓦茨擁有用于OTA測試的強大解決方案組合,可以應(yīng)對這些挑戰(zhàn)。其中一些基于緊縮場(CATR)技術(shù),使用鍍金反射面產(chǎn)生平面波,從而使被測設(shè)備相對更靠近天線。而對于諸如基站這樣的大型被測設(shè)備,高精度反射面的尺寸過大,勢必會大大提升系統(tǒng)的成本。羅德與施瓦茨公司在其無線測試產(chǎn)品組合中采用了基于PWC技術(shù),特別是針對大型被測設(shè)備的解決方案,擴大了用戶的選擇范圍。

R&S PWC200僅需要其他OTA測試技術(shù)(例如緊縮場技術(shù))的四分之一空間大小。R&S PWC200基于由156個寬帶Vivaldi天線組成的相控天線陣列,該天線陣列置于被測設(shè)備附近的輻射近場區(qū),能在可調(diào)靜區(qū)內(nèi)形成平面波。R&S PWC200可以用作平面波合成器和近場掃描儀,專為5G基站大規(guī)模MIMO測試而設(shè)計,可在受控的微波暗室環(huán)境中進行實時的輻射功率和收發(fā)器測量(EVM、ACLR、SEM等)。R&S PWC200具有內(nèi)部射頻驗證功能,因而能在不使用外部天線的情況下對R&S PWC200天線進行精確的監(jiān)控和校正。

兩年前發(fā)布的R&S PWC200是市場上第一個基于PWC的解決方案。它已成為用于LTE和WCDMA(3GPP TS 37.145-2)的NR(3GPP TS 38.141-2)和先進天線系統(tǒng)(AAS)一致性測試的符合3GPP規(guī)范的OTA基站測量方法。近期,該解決方案在多個方面進行了更新。全球各地5G頻段各有不同,R&S PWC200的頻率范圍現(xiàn)在已從原來的2.3至3.8 GHz擴展到1.7至5 GHz,以滿足不同國家不同地區(qū)的5G應(yīng)用需求。另外,由于采用了創(chuàng)新的PWC校準方法,平面波合成的精度得到了進一步提高。與以前的解決方案相比,升級后的R&S PWC200在幅度和相位均勻性方面的精度提高了三倍。

羅德與施瓦茨天線測試系統(tǒng)高級開發(fā)專家Adam Tankielun博士說道:“我們富有創(chuàng)造力和熱情的開發(fā)團隊重新定義了R&S PWC200的校準程序,因此能夠幫助我們的客戶在測試其新一代基站產(chǎn)品時獲得最小的測量不確定性,并發(fā)揮出PWC測試系統(tǒng)的最大價值。用戶可以從單一供應(yīng)商處獲得交鑰匙解決方案,并得到量身定制,以全面滿足其需求的支持和服務(wù)。

羅德與施瓦茨現(xiàn)在已正式對外發(fā)售R&S PWC200平面波轉(zhuǎn)換器。更多相關(guān)信息,請訪問:https://www.rohde-schwarz.com.cn ... e_63493-533696.html 。

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