知用近場(chǎng)探頭及放大器的應(yīng)用方案

PRBTEK

CYBERTEK近場(chǎng)探頭套件主要用于電子產(chǎn)品的電磁場(chǎng)測(cè)量，實(shí)現(xiàn)干擾源快速位，多種形狀的探頭，寬頻率范圍，可以完成多種的電磁場(chǎng)測(cè)試任務(wù)。廣泛應(yīng)用于檢測(cè)器件或者是表面的磁場(chǎng)方向及強(qiáng)度；機(jī)箱、線纜、PCB模塊等磁場(chǎng)泄露情況；甚至可以到IC引腳以及具體的走線，從而判斷干擾產(chǎn)生的原因，提高產(chǎn)品設(shè)計(jì)水平，縮短產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期。

（EM8030 近場(chǎng)探頭+EM8020A/B 放大器）專為近場(chǎng)測(cè)試設(shè)計(jì)的探頭,適用于電子產(chǎn)品的電磁場(chǎng)測(cè)量。

一、為什么要近場(chǎng)測(cè)量

在EMC 測(cè)試認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)中，是遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量，遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試只是能給出頻率信息。顯示各個(gè)頻點(diǎn)的輻射強(qiáng)度，但是沒(méi)有給出具體的位置信息。為了通過(guò)測(cè)試，如果沒(méi)有目的的對(duì)電路進(jìn)行更改，將會(huì)花大量的時(shí)間，精力，經(jīng)費(fèi)。加長(zhǎng)了產(chǎn)品的研發(fā)周期。所以必須對(duì)產(chǎn)品的輻射根源進(jìn)行排查，這樣就要用到近場(chǎng)探頭來(lái)具體定位干擾源，后級(jí)接放大器，可大大提高測(cè)試靈敏度。

二、CYBERTEK 近場(chǎng)探頭套件特點(diǎn)

1. 寬頻率范圍，多種形狀的探頭，可以完成多種的電磁場(chǎng)測(cè)試任務(wù)。

2. 通過(guò)移動(dòng)探頭可以檢測(cè)出磁場(chǎng)的方向和分布，適用于機(jī)箱線纜電磁泄露，IC 引腳區(qū)域，EMC 器件等的磁場(chǎng)檢測(cè)。

3. 無(wú)源探頭，可以直接連到頻譜分析儀或者示波器的50 歐姆輸入端，方便檢查使用不同手段對(duì)磁場(chǎng)或者電流的變化。如果應(yīng)用場(chǎng)合的信號(hào)比較弱，可在后級(jí)增加EM8020A/B 放大器，增益約20dB/30dB，提高系統(tǒng)測(cè)試靈敏度！

4. 探頭輕巧，使用方便。

三、測(cè)試示意圖

CYBERTEK EM8030 近場(chǎng)探頭測(cè)試頻率可達(dá)3G，在產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)期間可用探測(cè)PCB 的磁場(chǎng)變化情況。如電動(dòng)機(jī)磁場(chǎng)輻射強(qiáng)度很強(qiáng)，可以不加放大器。示意圖如下：

四、測(cè)試方法

第一步利用EM8030-1 或者EM8030-2 檢測(cè)大概磁

第二步利用EM8030-3 或者EM8030-4 實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確定位，示意圖如下：

五、應(yīng)用案例（開(kāi)關(guān)電源）

第一步：利用EM8030-1 探測(cè)PCB 某處磁場(chǎng)大概強(qiáng)度

從圖上可以看到：10MHz 附近70MHz 附近107MHz 附近有較強(qiáng)的磁場(chǎng)輻射

第二步利用EM8030-3 進(jìn)一步定位（發(fā)現(xiàn)探頭附近有兩個(gè)很長(zhǎng)的引線，探測(cè)這兩根線）

上圖看到探測(cè)到的這根線（該線為電池供電時(shí)的初級(jí)線圈）輻射比較強(qiáng)，頻率在10MHz 附近和70MHz 附近！

上圖看到探測(cè)到的這根線（電壓輸出線）在頻率107MHz 的輻射比較強(qiáng)（上圖中的10MHz 處點(diǎn)輻射也很強(qiáng)，后來(lái)發(fā)現(xiàn)是頻譜儀的問(wèn)題）通過(guò)以上兩步基本查到了不同頻率點(diǎn)的輻射源，下面的問(wèn)題相對(duì)就比較容易了！當(dāng)然我們可以看到上圖的信號(hào)比較微弱，這時(shí)可以使用EM8020A/B 放大器，測(cè)試效果如下：

上圖看到加放大器后，看到測(cè)到的輻射強(qiáng)度明顯增加，靈敏度提高很多！