|
How to Model Statistical Tolerance Analysis for Complex Circuits Using LTspice 作者：ADI公司現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用工程師 Steve Knudtsen 摘要 LTspice可用于對(duì)復(fù)雜電路進(jìn)行統(tǒng)計(jì)容差分析。本文介紹在LTspice中使用蒙特卡羅和高斯分布進(jìn)行容差分析和最差情況分析的方法。為了證實(shí)該方法的有效性，我們?cè)贚Tspice中對(duì)電壓調(diào)節(jié)示例電路進(jìn)行建模，通過(guò)內(nèi)部基準(zhǔn)電壓和反饋電阻演示蒙特卡羅和高斯分布技術(shù)。然后，將得出的仿真結(jié)果與最差情況分析仿真結(jié)果進(jìn)行比較。其中包括4個(gè)附錄。附錄A提供了有關(guān)微調(diào)基準(zhǔn)電壓源分布的見(jiàn)解。附錄B提供了LTspice中的高斯分布分析。附錄C提供了LTspice定義的蒙特卡羅分布的圖形視圖。附錄D提供關(guān)于編輯LTspice原理圖和提取仿真數(shù)據(jù)的說(shuō)明。 本文介紹可以使用LTspice進(jìn)行的統(tǒng)計(jì)分析。這不是對(duì)6-sigma設(shè)計(jì)原則、中心極限定理或蒙特卡羅采樣的回顧。 下載全文： 
ADI技術(shù)文章（ 3562字, 28圖7表） - 如何使用LTspice對(duì)復(fù)雜電路的統(tǒng)計(jì)容差分析進(jìn)行建.pdf
(2.53 MB)
|
