VTE-7100-UFS Spec (1.1f).pdf
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TestMetrix發(fā)布最新的VTE-7100測(cè)試機(jī)臺(tái)支持SD7.0及UFS/eMMC Compliance & Engineering, Production測(cè)試解決方案-深圳市銳測(cè)電子科技有限公司 VTE-7100系統(tǒng)是一部高性能功能/合規(guī)測(cè)試儀和分析儀，主要用于目前業(yè)界最新的SD7.0及UFS/eMMC Compliance & Engineering測(cè)試。 VTE-7100測(cè)試儀支持多種器件和相關(guān)主機(jī)，包括以下器件系列: 1. SD卡和主機(jī)（UHS-I, UHS-II, SD Express） 2. UFS卡和主機(jī)（3.1/4.1） 3. NAND閃存芯片（SLC, MLC/TLC/QLC, 3D, ONFI） 4. SSD固態(tài)硬盤(pán)（PCIE/NVME, Gen3/Gen4） |
