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VTE-7100系統(tǒng)是一部高性能功能/合規(guī)測(cè)試儀和分析儀，主要用于目前業(yè)界最新的SD7.0及UFS/eMMC Compliance & Engineering測(cè)試。 VTE-7100測(cè)試儀支持多種器件和相關(guān)主機(jī)，包括以下器件系列: 1. SD卡和主機(jī)（UHS-I, UHS-II, SD Express） 2. UFS卡和主機(jī)（3.1/4.1） 3. NAND閃存芯片（SLC, MLC/TLC/QLC, 3D, ONFI） 4. SSD固態(tài)硬盤（PCIE/NVME, Gen3/Gen4） 針對(duì)以上支持的器件系列，都將提供專用轉(zhuǎn)接板，以及FPGA配置文件和軟件測(cè)試套件。 TestMetrix是SD Association, JEDEC和MIPI Alliance重要的會(huì)員，參與相關(guān)的協(xié)議測(cè)試規(guī)范等制定，目前業(yè)界各大主要的SD/eMMC等存儲(chǔ)廠商均有在廣泛使用TestMetrix的產(chǎn)品。 更多詳細(xì)的關(guān)于TestMetrix VTE-7100的產(chǎn)品資料，歡迎您聯(lián)系深圳市銳測(cè)電子科技有限公司 |
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