納米軟件芯片測(cè)試帶你走進(jìn)啟動(dòng)電壓與欠壓鎖定

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　　每種芯片在設(shè)計(jì)階段都會(huì)對(duì)一些核心指標(biāo)參數(shù)進(jìn)行提前的計(jì)算規(guī)劃，而在芯片生產(chǎn)之后，也會(huì)對(duì)這些核心參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，兩組數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比以便了解生產(chǎn)的芯片指標(biāo)參數(shù)是否在當(dāng)初設(shè)計(jì)時(shí)的規(guī)定范圍之內(nèi)，從而整體把控芯片的質(zhì)量。
　　其中芯片的啟動(dòng)電壓就是這些核心參數(shù)中最為重要的指標(biāo)之一，而低電壓鎖定(UVLO)這個(gè)指標(biāo)就與啟動(dòng)電壓息息相關(guān)，甚至可以說這兩個(gè)指標(biāo)是相輔相成的。啟動(dòng)電壓從字面意思就可以知道它是芯片從待機(jī)狀態(tài)轉(zhuǎn)化為啟動(dòng)狀態(tài)時(shí)的電壓，只有輸出電壓值達(dá)到芯片規(guī)定的啟動(dòng)電壓時(shí)，芯片才會(huì)開始工作。
　　低電壓鎖定(關(guān)斷)也叫欠壓鎖定(關(guān)斷)，英文縮寫為UVLO，它是芯片的輸入電壓還沒有達(dá)到啟動(dòng)電壓時(shí)芯片內(nèi)部的一種保護(hù)模式。低電壓鎖定可以保證芯片在輸入電壓不足時(shí)不至于被損壞。
　　芯片內(nèi)部的低電壓鎖定電路的作用可以確保芯片的在輸入的電壓未達(dá)到啟動(dòng)電壓時(shí)芯片內(nèi)部的其他電路不會(huì)被激活，從而保證芯片安全，同時(shí)UVLO功能的滯后現(xiàn)象可以降低芯片啟動(dòng)時(shí)的噪聲和電壓振蕩，避免出現(xiàn)噪聲過大而引起系統(tǒng)故障，從而保證芯片的穩(wěn)定性。某些電源芯片的UVLO功能還可以在電源開啟后，使內(nèi)部電路處于待機(jī)狀態(tài)，直到電源轉(zhuǎn)換器的輸入電壓達(dá)到 UVLO 電壓，以此來減少消耗電流并避免誤操作。
　　在上面我們說到了UVLO的滯后現(xiàn)象，這種現(xiàn)象也叫欠壓關(guān)斷滯后，它在芯片測(cè)試中被稱為“Hysteresis”，它是芯片從UVLO模式轉(zhuǎn)換為啟動(dòng)模式所產(chǎn)生的差值，通俗的來講就是芯片的欠壓鎖定電壓與啟動(dòng)電壓的差值。比如某芯片的UVLO狀態(tài)電壓為4.9V，Hysteresis電壓為100mV,那么這款芯片的啟動(dòng)電壓即UVLO+Hysteresis為5V，也就是說該芯片的輸入電壓從4.9V上升到5V，即可退出UVLO狀態(tài)，進(jìn)入工作狀態(tài)。

　　如何測(cè)試芯片的UVLO?
　　在手動(dòng)測(cè)試芯片的UVLO過程中我們也會(huì)測(cè)試到芯片的啟動(dòng)電壓和欠壓關(guān)斷滯后電壓，所以這三個(gè)指標(biāo)可以一起進(jìn)行測(cè)量;測(cè)試這些指標(biāo)我們需要一臺(tái)電源和數(shù)字萬用表即可，電源給芯片的輸入一個(gè)電壓，萬用表則測(cè)試芯片的輸出電壓。
　　這個(gè)過程需要電源在輸入端從0逐漸提升輸入電壓直至萬用表上讀到芯片的額定輸出電壓為止，此時(shí)電源上設(shè)置的電壓即為啟動(dòng)電壓;然后將啟動(dòng)電壓逐漸降低，直至萬用表上的輸出電壓值消失，此時(shí)電源上的電壓即為UVLO電壓，這兩個(gè)電壓差即為欠壓關(guān)斷滯后電壓。
　　我們可以看到手動(dòng)測(cè)試這些指標(biāo)時(shí)，需要按照順序不停的調(diào)整電源輸出電壓，同時(shí)需要注意萬用表的讀數(shù)，所以整個(gè)測(cè)試過程十分緩慢，面對(duì)大批量芯片測(cè)試時(shí)不僅效率極低，而且對(duì)于測(cè)試人員的精力和技術(shù)要求很高，所以在芯片的研發(fā)和產(chǎn)線測(cè)試中手動(dòng)測(cè)試很不適用。
　　面對(duì)這一系列問題和現(xiàn)狀自動(dòng)化的測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)運(yùn)而生，芯片自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)在針對(duì)需要循環(huán)和高精度要求的測(cè)試場(chǎng)景中優(yōu)勢(shì)尤為明顯。通常這些測(cè)試場(chǎng)景中手動(dòng)測(cè)試只能手動(dòng)一步步調(diào)整參數(shù)實(shí)現(xiàn)步進(jìn)任務(wù)，高精度的觸發(fā)讀數(shù)也只能依靠目測(cè)，而在欠壓鎖定的測(cè)試項(xiàng)目中芯片測(cè)試系統(tǒng)只需要人工提前將儀器接線完成，然后通過循環(huán)指令和數(shù)據(jù)讀取指令即可完成復(fù)雜的測(cè)試過程，測(cè)試效率是人工測(cè)試的5-10倍，而且數(shù)據(jù)的精準(zhǔn)度是人工無法比擬的。更多芯片測(cè)試詳情可了解：https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1220.html