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開(kāi)關(guān)電源測(cè)試可靠性重點(diǎn)測(cè)試項(xiàng)目與測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

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發(fā)表于 2024-3-21 16:03:44 | 只看該作者 回帖獎(jiǎng)勵(lì) |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
  開(kāi)關(guān)電源可靠性測(cè)試是檢測(cè)開(kāi)關(guān)電源質(zhì)量、穩(wěn)定性和質(zhì)量的重要手段?煽啃詼y(cè)試也是開(kāi)關(guān)電源測(cè)試的關(guān)鍵環(huán)節(jié),以此評(píng)估開(kāi)關(guān)電源的性能和使用壽命。那么開(kāi)關(guān)電源可靠性測(cè)試都有哪些測(cè)試項(xiàng)目呢?

  1. 振動(dòng)測(cè)試
  2. 電磁兼容性測(cè)試
  3. 高溫?zé)龣C(jī)測(cè)試
  4. 低溫啟動(dòng)測(cè)試
  低溫啟動(dòng)測(cè)試的溫度條件一般是0℃下降到-10±2℃,并且要存儲(chǔ)至少4小時(shí),然后對(duì)其進(jìn)行開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試,判斷開(kāi)關(guān)電源是否可以正常工作。
  5. 低溫儲(chǔ)存測(cè)試
  低溫儲(chǔ)存測(cè)試的溫度一般為-30℃,測(cè)試時(shí)間是24小時(shí)。24小時(shí)后取出放置至少4小時(shí),然后做HI-POT測(cè)試,觀察測(cè)試結(jié)果。
  6. 溫度循環(huán)測(cè)試
  開(kāi)關(guān)電源在通常為低溫-40℃、25℃、33℃和溫度66℃溫度條件下測(cè)試,至少要測(cè)試24個(gè)循環(huán)。測(cè)試結(jié)束后,評(píng)估開(kāi)關(guān)電源性能,判斷其能否正常工作。
  7. 冷熱沖擊測(cè)試
  是對(duì)開(kāi)關(guān)電源在高溫和低溫條件下進(jìn)行測(cè)試后,檢查開(kāi)關(guān)電源的外殼、耐壓和電氣性能是否正常。
  8. 跌落測(cè)試
  按照規(guī)定的跌落高度、跌落次數(shù)和剛硬水平面,對(duì)待測(cè)開(kāi)關(guān)電源依次進(jìn)行跌落測(cè)試,檢查結(jié)構(gòu)和電氣特性等變化狀況,觀察測(cè)試結(jié)果。
  9. 高溫高濕儲(chǔ)存測(cè)試
  測(cè)試開(kāi)關(guān)電源在高溫高濕條件下的性能,一般溫度是70±2℃,濕度90-95%,時(shí)間一般是24小時(shí)。

  開(kāi)關(guān)電源測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
  1. NB/T 10288-2019:開(kāi)關(guān)電源高加速壽命測(cè)試方法
  2. NB/T 10456-2020:開(kāi)關(guān)電源跌落測(cè)試要求和規(guī)范
  3. NB/T 10461-2020:開(kāi)關(guān)電源電子組件異常測(cè)試規(guī)范
  4. NB/T 10462-2020:開(kāi)關(guān)電源電子組件異常測(cè)試規(guī)范、近場(chǎng)射頻電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試規(guī)范

  開(kāi)關(guān)電源可靠性測(cè)試可以檢測(cè)產(chǎn)品質(zhì)量,確保開(kāi)關(guān)電源可以長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行。NSAT-8000開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)是專門測(cè)試開(kāi)關(guān)電源各個(gè)項(xiàng)目參數(shù)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),基于ATECLOUD智能測(cè)試平臺(tái),從測(cè)試方案到數(shù)據(jù)報(bào)告、數(shù)據(jù)分析,提供一體化測(cè)試服務(wù)和解決方案。更多系統(tǒng)詳情可了解:https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1136.html

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