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為了保證制造商性能指標(biāo)的一致性，在出廠前發(fā)現(xiàn)并清除有缺陷器件，對(duì)封裝二極管進(jìn)行單點(diǎn)通過(guò)/失敗直流測(cè)試至關(guān)重要。在最后的檢測(cè)過(guò)程中，大部分類(lèi)型的二極管要經(jīng)歷至少3種主要的直流參數(shù)測(cè)試，它們是：前向電壓測(cè)試(VF)、擊穿電壓測(cè)試(VR)以及漏電流測(cè)試(IR)。盡管這些測(cè)試的可靠性對(duì)于確保產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要，但同樣重要的是，為了保持較高的產(chǎn)量，這些測(cè)試必須迅速完成。 下載： |
Diode_Production_Test_AN-CN.pdf
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