納米軟件ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)打破傳統(tǒng)測(cè)試壁壘 助力自動(dòng)化測(cè)試的發(fā)展

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　　在當(dāng)今飛速發(fā)展的時(shí)代，一切都在不斷進(jìn)步與變革，電測(cè)行業(yè)也由手動(dòng)測(cè)試逐步轉(zhuǎn)向了自動(dòng)化測(cè)試。但是隨著科技的發(fā)展，對(duì)于產(chǎn)品的測(cè)試要求也越來越高，傳統(tǒng)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)已經(jīng)無法滿足用戶日益增長的測(cè)試需求，全新的ATE測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)運(yùn)而生。

　　傳統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的痛點(diǎn)
　　1. 需要專業(yè)的開發(fā)工程師進(jìn)行維護(hù)，對(duì)人員的技術(shù)要求高、依賴度高。一旦人員有變動(dòng)，系統(tǒng)難以維護(hù)。
　　2. 測(cè)試系統(tǒng)固定。當(dāng)用戶測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)試方法改變時(shí)，系統(tǒng)無法擴(kuò)展，難以適應(yīng)測(cè)試需求的變化。
　　3. 系統(tǒng)分散獨(dú)立，需要獨(dú)立開發(fā)、獨(dú)立維護(hù)，升級(jí)成本高。
　　4. 測(cè)試數(shù)據(jù)獨(dú)立，難以匯總統(tǒng)一管理，無法發(fā)揮數(shù)據(jù)有效價(jià)值。

　　ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)：突破傳統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試限制
　　1. 采取開放式流程，測(cè)試工步留存。若有人員變動(dòng)，也可溯源追蹤，方便維護(hù)。
　　2. 系統(tǒng)靈活性強(qiáng)，支持靈活修改、調(diào)整、新增測(cè)試項(xiàng)目，滿足產(chǎn)品升級(jí)迭代后的測(cè)試需求，節(jié)省系統(tǒng)維護(hù)成本。
　　3. 強(qiáng)大的兼容性，可以快速對(duì)接時(shí)域、頻域類測(cè)試儀器，以及探針臺(tái)等其它配套設(shè)備，支持儀器自由選型。
　　4. 系統(tǒng)集運(yùn)行測(cè)試、記錄報(bào)告、數(shù)據(jù)分析洞察于一體，提供一站式測(cè)試解決方案，方便數(shù)據(jù)匯總、分析數(shù)據(jù)。
　　5. 滿足自主可控、國產(chǎn)化測(cè)試軟件的訴求，維護(hù)國家安全。
　　6. 系統(tǒng)采取無代碼開發(fā)模式，操作簡單，15分鐘便可創(chuàng)建測(cè)試項(xiàng)目，快速測(cè)試。

　　納米軟件通過多年業(yè)務(wù)積累，具有豐富的軟件開發(fā)和系統(tǒng)集成經(jīng)驗(yàn)。ATECLOUD自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)也一直在迭代升級(jí)，擴(kuò)展功能，致力于讓測(cè)試變得更簡單、更便捷。

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