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4月17日訊，由電科芯片所屬重慶西南集成電路設(shè)計有限責(zé)任公司（以下簡稱“西南設(shè)計”）牽頭制定的國家標(biāo)準(zhǔn)《半導(dǎo)體集成電路-射頻發(fā)射器/接收器測試方法》（標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 44924-2024）已于近日正式實施。該標(biāo)準(zhǔn)的實施標(biāo)志著我國在射頻測試領(lǐng)域邁出了重要一步，為半導(dǎo)體集成電路射頻發(fā)射器和接收器的電特性測試提供了統(tǒng)一、規(guī)范的測試方法和程序。 據(jù)悉，該國家標(biāo)準(zhǔn)由全國集成電路標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口，工業(yè)和信息化部（電子）主管，于2024年12月31日經(jīng)中國國家標(biāo)準(zhǔn)公告發(fā)布，自2025年4月1日起正式實施。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路射頻發(fā)射器和接收器的電特性測試方法的基本原理和測試程序，適用于具有接收功能、發(fā)射功能、收發(fā)一體功能的一次變頻射頻發(fā)射器/接收器。 西南設(shè)計作為該標(biāo)準(zhǔn)的主要起草單位之一，充分發(fā)揮了其在射頻測試領(lǐng)域的技術(shù)優(yōu)勢和創(chuàng)新能力。通過牽頭制定這一國家標(biāo)準(zhǔn)，西南設(shè)計不僅為行業(yè)提供了科學(xué)、規(guī)范的測試方法，還推動了射頻測試技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)化進程，為提升我國半導(dǎo)體集成電路產(chǎn)品的質(zhì)量和競爭力奠定了堅實基礎(chǔ)。 該標(biāo)準(zhǔn)的實施對于促進射頻測試領(lǐng)域的健康發(fā)展具有重要意義。一方面，它將有助于統(tǒng)一測試方法和程序，提高測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性，為產(chǎn)品設(shè)計和生產(chǎn)提供有力支持；另一方面，它也將推動射頻測試技術(shù)的不斷創(chuàng)新和發(fā)展，滿足市場對更高性能、更可靠產(chǎn)品的需求。 電科芯片表示，將緊跟集成電路發(fā)展趨勢與行業(yè)痛點，持續(xù)加強對國家相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的研究、編制及實施推廣工作。未來，電科芯片將繼續(xù)發(fā)揮在射頻測試領(lǐng)域的技術(shù)引領(lǐng)作用，為集成電路領(lǐng)域的設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)化貢獻(xiàn)力量，推動中國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的繁榮發(fā)展。 |
