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泰瑞達(dá)推出業(yè)界卓越的UltraPHY解決方案,為當(dāng)前及下一代高速接口提供全面性能測試

發(fā)布時間:2025-10-13 18:00    發(fā)布者:eechina
關(guān)鍵詞: 測試板卡 , UltraPHY , 接口測試
泰瑞達(dá)(NASDAQ:TER)今日宣布推出一款基于UltraFLEXplus平臺的突破性高速PHY性能測試板卡——UltraPHY 224G。該解決方案與已量產(chǎn)并被多家客戶采用的UltraPHY 112G板卡形成更完善的產(chǎn)品組合。兩款解決方案均針對UltraFLEXplus設(shè)計(jì),并借助泰瑞達(dá)先進(jìn)的IG-XL軟件,方便用戶快速上手使用。

UltraPHY 224G由泰瑞達(dá)采用Multilane模塊研發(fā),可為量產(chǎn)測試提供實(shí)驗(yàn)室級別的信號生成與測量功能。該產(chǎn)品按照嚴(yán)格的軟硬件標(biāo)準(zhǔn)打造,為測試密度和信號保真度樹立新標(biāo)桿,以滿足下一代芯片高速接口的需求。

泰瑞達(dá)副總裁兼計(jì)算測試事業(yè)部總經(jīng)理Roy Chorev表示:“隨著泰瑞達(dá)UltraPHY 224G的推出,我們進(jìn)一步擴(kuò)充產(chǎn)品組合,以滿足下一代PHY更苛刻的測試要求?蛻艨梢苑判,泰瑞達(dá)對UltraPHY的投入既能支持當(dāng)前的芯粒架構(gòu)、先進(jìn)封裝及KGD工作流程,也能滿足未來的技術(shù)需求!

UltraPHY 112G針對當(dāng)前的高速標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行優(yōu)化,而UltraPHY 224G拓展性能邊界,可滿足數(shù)據(jù)中心和硅光子(SiPh)市場中新出現(xiàn)的數(shù)據(jù)速率需求。兩款板卡可在同一UltraFLEXplus平臺上同時使用,為客戶提供極大的靈活性,輕松應(yīng)對當(dāng)前和未來的各類高速接口測試需求。

每個UltraPHY 224G板卡提供8個全雙工差分通道和8個純接收差分通道,采用DSO + BERT架構(gòu),并支持高達(dá)112 Gb/s NRZ和224 Gb/s(112 Gbaud PAM4)的數(shù)據(jù)速率。與泰瑞達(dá)的UltraPHY 112G一樣,UltraPHY 224G具有極高的可擴(kuò)展性,每個UltraFLEXplus平臺可支持多個板卡,并能隨著行業(yè)發(fā)展而靈活支持新出現(xiàn)的先進(jìn)調(diào)制格式。

主要優(yōu)勢包括:
        單一測試平臺滿足所有PHY測試需求–UltraPHY 224G和UltraPHY 112G均基于泰瑞達(dá)UltraFLEXplus設(shè)計(jì)。
        平臺共存–同一UltraFLEXplus可同時搭載UltraPHY 224G和UltraPHY 112G,實(shí)現(xiàn)PHY測試的全數(shù)據(jù)速率覆蓋。
        依托泰瑞達(dá)應(yīng)用廣泛的IG-XL軟件,大幅簡化測試程序開發(fā)與調(diào)試診斷工作。
        基于先進(jìn)的實(shí)驗(yàn)室技術(shù),UltraPHY提供全面集成的量產(chǎn)測試解決方案,并由泰瑞達(dá)統(tǒng)一提供服務(wù)和支持。
        集成DSO、AWG和BERT功能,可實(shí)現(xiàn)全面的PHY量產(chǎn)測試和特性分析。
        信號傳輸帶寬超50GHz,其可靠性已在生產(chǎn)環(huán)境中得到驗(yàn)證。
        架構(gòu)具有可擴(kuò)展性,能支持當(dāng)前和未來適用于SiPh及非SiPh芯片的電氣接口標(biāo)準(zhǔn)。

隨著高速PHY接口不斷演進(jìn),部署在同一測試平臺(泰瑞達(dá)UltraFLEXplus)上的泰瑞達(dá)UltraPHY成為一種能夠滿足未來需求的解決方案。如需進(jìn)一步了解泰瑞達(dá)UltraFLEXplus上的泰瑞達(dá)UltraPHY解決方案,請?jiān)L問我們的網(wǎng)站:
https://www.teradyne.com/products/ultraflexplus/

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