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如何用SMU數(shù)字源表快速測試apd管的漏電流

發(fā)布時間:2024-3-19 16:00    發(fā)布者:whpssins
[color=rgba(0, 0, 0, 0.9)]APD雪崩光電二極管是一種高性能光電探測器,它是一種PN結(jié)型光電二極管,具有高增益、高靈敏度和快速響應等特點。廣泛應用于光電檢測、傳感、安檢等各個領(lǐng)域。
APD雪崩光電二極管的工作原理是基于光電效應和雪崩效應,當光子被吸收時,會產(chǎn)生電子空穴對,空穴向P區(qū)移動,電子向N區(qū)移動,由于電場的作用,電子與空穴相遇時會產(chǎn)生二次電子,形成雪崩效應,從而使電荷載流子數(shù)目增加,電流增大,實現(xiàn)光電轉(zhuǎn)換。
在APD的光電特性中,暗電流是一個重要的參數(shù)。暗電流是指在沒有光照射的情況下,APD中由于熱激發(fā)等原因?qū)е碌碾娮悠坪碗娮?空穴對產(chǎn)生而產(chǎn)生的電流,暗電流測試的準確性對于評估APD的性能和穩(wěn)定性非常重要。在進行APD暗電流測試時,通常面臨如下挑戰(zhàn):
測試環(huán)境影響
在進行暗電流測試時,需要確保測試環(huán)境中沒有光照射,光照會激發(fā)APD中的載流子,導致暗電流的增加,從而影響測試結(jié)果的準確性。
連接電路影響
暗電流的測試通常需要提供一個反向偏壓,縱觀目前的電流表和電流計,都不具備提供偏壓的功能,因此必須在電流表的回路中加入電壓源。但這樣會使測試系統(tǒng)變得復雜,引入更多干擾條件,導致暗電流的測試精度無法保證。
目前暗電流測試的最佳工具之一是數(shù)字源表(SMU),數(shù)字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表,還可用作精密電子負載,其高性能架構(gòu)還允許將其用作脈沖發(fā)生器、  波形發(fā)生器和自動電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng),支持四象限工作。


采用數(shù)字源表進行暗電流測試時,需要注意以下事項:
三同軸線纜連接
APD暗電流測試連接線通常會選擇使用低噪聲、低電阻的導線,三同軸線纜具有良好的導電性能和抗干擾能力,適合用于傳輸微弱信號,可以減少測試過程中的干擾和誤差。
如下圖三同軸線纜的半剖圖,多層絕緣屏蔽具有良好的抗干擾能力。
(1導體;2絕緣;3內(nèi)屏蔽層;4中間層;5外屏蔽層;6外護套)




屏蔽外部電磁信號干擾
測試系統(tǒng)架構(gòu)圖如下圖所示,數(shù)字源表(SMU)連接到光電二極管上,該光電二極管安放在一個電屏蔽的暗箱中,為了對敏感的電流測量進行屏蔽使其不受外部干擾的影響,通過將屏蔽箱與數(shù)字源表(SMU)的低端相連,可以形成一個封閉的金屬屏蔽環(huán)境,有效地阻止外部電磁干擾信號的進入,保護測試信號的準確性和穩(wěn)定性。
預留充足的測量時間
在進行暗電流測試時,需要考慮測試時間的長短。通常情況下,這種現(xiàn)象可能是由于APD內(nèi)部的一些因素導致的,例如載流子的生成和收集過程。隨著測試時間的推移,由于暗電流源的累積或者其他因素的影響,暗電流會逐漸增加至一個穩(wěn)定的數(shù)值。
[color=rgba(0, 0, 0, 0.9)]此外,對于測量得到的暗電流數(shù)據(jù),需要進行適當?shù)奶幚砗头治,以確保測試結(jié)果的準確可靠。下圖為普賽斯數(shù)字源表(SMU)測試完成后,上位機軟件通過數(shù)據(jù)處理給出的測試結(jié)果以及測試曲線。
[color=rgba(0, 0, 0, 0.9)]
測試結(jié)果
測試曲線





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