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工程師可以快速、經(jīng)濟(jì)、可靠地驗(yàn)證和調(diào)試DDR5設(shè)計(jì) 泰克科技公司日前推出最新TekExpress DDR5發(fā)射機(jī)解決方案，其改善了自動(dòng)化程度，工程師可以克服各種DFE所帶來的分析挑戰(zhàn)，采用用戶自定義采集和DDR5去嵌技術(shù)及串行數(shù)據(jù)鏈路分析(SDLA)技術(shù)，滿懷信心地、高效地驗(yàn)證和調(diào)試DDR5設(shè)計(jì)。 從增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)、人工智能到云計(jì)算和物聯(lián)網(wǎng)，5G正在推動(dòng)著各種新興技術(shù)迅速增長，人們對(duì)容量更高、速度更快、能耗更低、尺寸更小的嵌入式和計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器的需求不斷提高，DDR SRAM也不斷響應(yīng)市場需求，技術(shù)升級(jí)不斷推陳出現(xiàn)，這使得DDR5比以往任何時(shí)候都更重要。DDR5內(nèi)存時(shí)代即將到來，頻率更高、功耗更低、速度更快，從入門級(jí)速度4800MHz到5200/5600MHz，未來兩年計(jì)算機(jī)、消費(fèi)性產(chǎn)品市場將逐漸轉(zhuǎn)從DDR4過渡至DDR5。 快速存取數(shù)量龐大的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，意味著復(fù)雜的設(shè)計(jì)正在挑戰(zhàn)信號(hào)完整性極限，要求性能更高的測量技術(shù)來完成一致性測試、調(diào)試和驗(yàn)證。TekExpress DDR5發(fā)射機(jī)解決方案是一種系統(tǒng)級(jí)自動(dòng)測試應(yīng)用，用戶可以迅速、經(jīng)濟(jì)、可靠地驗(yàn)證和調(diào)試DDR5設(shè)計(jì)，滿足JEDEC中所規(guī)定的50多種電接口和時(shí)序測量。 DFE分析 DDR4內(nèi)容目前還是絕對(duì)主流，但DDR5已經(jīng)完成了規(guī)范開發(fā)，當(dāng)在存在符號(hào)間干擾(ISI)的情況下測試DDR5設(shè)計(jì)時(shí)，即使DDR3/4的最佳調(diào)試工具也是不夠用的。泰克DDR5系統(tǒng)級(jí)一致性測試軟件提供了各種自動(dòng)化工具，克服了下一代DDR面臨的各種挑戰(zhàn)，包括： Rx DFE均衡支持，在DDR5業(yè)務(wù)中進(jìn)行寫入數(shù)據(jù)的眼圖測量； 自動(dòng)測量JEDEC中規(guī)定的50多種DDR5電接口和時(shí)序參數(shù)； 多種新算法，一致可靠地區(qū)分讀突發(fā)和寫突發(fā)； 全新一致性測試應(yīng)用架構(gòu)，增強(qiáng)了自動(dòng)化程度，縮短了測試時(shí)間，幫助更快地把設(shè)計(jì)推向市場。 調(diào)試和驗(yàn)證 TekExpress DDR5發(fā)射機(jī)解決方案把控制能力還到了工程師手中，它擁有用戶自定義采集模式，可以量身定制示波器設(shè)置，包括采樣率、記錄長度、帶寬等，來運(yùn)行DDR5 JEDEC一致性測量。 泰克獨(dú)立式DDR5 DFE應(yīng)用可以整體控制DFE增益和4抽頭值，工程師可以運(yùn)行內(nèi)部測試計(jì)劃，執(zhí)行測量關(guān)聯(lián)仿真，通過改變4抽頭值和增益值，微調(diào)仿真模型，進(jìn)行假設(shè)分析。 SDLA 在對(duì)DDR5設(shè)計(jì)進(jìn)行去嵌時(shí)，S參數(shù)的驗(yàn)證通常是工程師擔(dān)心的主要問題。通過改善無源性校驗(yàn)、端口分配和繪圖功能，串行數(shù)據(jù)鏈路分析(SDLA)技術(shù)增強(qiáng)了對(duì)S參數(shù)文件的驗(yàn)證，改善了靈活性，提高了對(duì)去嵌流程的信心，節(jié)省了時(shí)間。其他的調(diào)試軟件工具要求用戶在完成整個(gè)流程后才能得到結(jié)果，而TekExpress DDR5發(fā)射機(jī)解決方案則不同，用戶可以提前檢測到問題，更高效地調(diào)試和優(yōu)化設(shè)計(jì)。 泰克TekExpress DDR5發(fā)射機(jī)解決方案現(xiàn)已在全球范圍內(nèi)上市，https://www.tek.com.cn/memory-technologies。7月24日（周五）泰克線上直播課程【DDR5規(guī)范解析及測試難點(diǎn)剖析】將為工程師帶來最新規(guī)范解析、測試難點(diǎn)剖析及泰克DDR5自動(dòng)化測試方案，掃碼進(jìn)行報(bào)名。 
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