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優(yōu)秀的產(chǎn)品離不開完善的測(cè)試，即使一個(gè)簡(jiǎn)單的USB接口也要確保穩(wěn)定性及兼容性。不同的U盤在ARM+Linux板卡下的兼容性、速率怎么樣呢？本文將為大家提供測(cè)試參考數(shù)據(jù)及詳細(xì)測(cè)試步驟！ 1. 測(cè)試準(zhǔn)備 主控選用最近發(fā)布的64位Cortex-A55核心板，搭載16 bit高速DDR4 內(nèi)存，最高配置為1G內(nèi)存+8G存儲(chǔ)，工作溫度滿足-40~85℃等級(jí)。該系列核心板外設(shè)資源豐富，支持千兆網(wǎng)x 2、USB2.0 x 2、UART x 5、CAN-FD x 2、SPI x 3、I2C x 2、I2S x 4、ADC x 2 等。 圖1 HD-G2UL系列核心板 U盤選用市面上常見的海康、閃迪、愛國者、金士頓品牌，部分U盤支持USB3.0模式，但受制于ARM處理器的USB2.0，其均只能工作在USB2.0模式。 2. 測(cè)試原理 2.1dd命令 1.Linux dd 命令用于讀取、轉(zhuǎn)換并輸出數(shù)據(jù)。 2.dd 可從標(biāo)準(zhǔn)輸入或文件中讀取數(shù)據(jù)，根據(jù)指定的格式來轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)，再輸出到文件、設(shè)備或標(biāo)準(zhǔn)輸出。 3.測(cè)試指令如下： 2.2dd的相關(guān)解釋 2.3開始測(cè)試 將U盤插入U(xiǎn)SB口后開發(fā)板會(huì)打印插入U(xiǎn)盤時(shí)的調(diào)試信息，并自動(dòng)掛載到/run/media/sda1目錄下。按照測(cè)試原理中的測(cè)試方法逐個(gè)測(cè)試U盤，并記錄數(shù)據(jù)。 2.3.1�？低� USB3.0 64GB 2.3.2閃迪USB3.0 16GB 2.3.3愛國者USB3.0 64GB 2.3.4金士頓USB3.0 32GB 2.3.5閃迪 USB2.0 1GB 2.3.6愛國者USB2.0 32GB 3. 測(cè)試結(jié)果 注：受測(cè)試環(huán)境影響，本數(shù)據(jù)可能存在偏差，僅供開發(fā)者參考。 |
